Un nuevo método permite un mapeo preciso del número atómico efectivo (Z_eff) en materiales compuestos, superando las limitaciones de las técnicas actuales. El avance es crucial para aplicaciones en ciencia de materiales, seguridad y medicina, donde la composición elemental es clave. El método aborda dos desafíos importantes en la tomografía de rayos X: el endurecimiento del haz y la respuesta del detector, que distorsionan las mediciones de atenuación.
El endurecimiento del haz ocurre cuando los rayos X de baja energía son absorbidos preferentemente, alterando el espectro del haz a medida que atraviesa el material. La respuesta del detector, por su parte, se refiere a cómo el detector convierte los fotones de rayos X en una señal medible, lo que puede introducir no linealidades y artefactos. Al corregir estos efectos de manera conjunta, el nuevo enfoque mejora significativamente la fidelidad del mapeo de Z_eff en materiales heterogéneos, donde las variaciones de composición son comunes.
La técnica desarrollada permite obtener una distribución más fiable de Z_eff, un parámetro que refleja la composición elemental promedio de un material. Esto es especialmente relevante en materiales compuestos con múltiples fases y elementos, donde las propiedades macroscópicas dependen críticamente de la microestructura y la distribución de Z_eff. La capacidad de mapear Z_eff de forma robusta abre nuevas vías para la caracterización no destructiva y el control de calidad en diversas industrias.