Investigadores han desarrollado un nuevo método, denominado Error Por Capa de Circuito (EPCL, por sus siglas en inglés), para evaluar el rendimiento de sistemas cuánticos a gran escala. Este enfoque es un hito importante porque permite medir el efecto acumulado del ruido en operaciones cuánticas sin necesidad de simulaciones clásicas costosas o de conjuntos de puertas estructuradas, lo que lo hace compatible con una amplia variedad de arquitecturas cuánticas, incluyendo aquellas con puertas no-Clifford.

EPCL funciona aplicando circuitos aleatorios idénticos a dos registros cuánticos disjuntos y midiendo la superposición entre sus estados de salida en función de la profundidad del circuito. La disminución de esta superposición proporciona una estimación de la polarización efectiva de la capa. A diferencia de otros métodos de evaluación, EPCL evita la necesidad de simular clásicamente las distribuciones de salida ideales o de recuperar un estado de referencia conocido, lo que simplifica significativamente el proceso de caracterización.

Las simulaciones numéricas han demostrado que EPCL recupera la polarización predicha bajo ruido estocástico local débil y mantiene una descripción de decaimiento exponencial simple incluso con niveles de ruido estocástico más fuertes. Los errores coherentes asociados con capas de entrelazamiento fijas pueden requerir técnicas como el "Pauli twirling" o la compilación aleatoria para producir el decaimiento esperado. Experimentos realizados en hardware cuántico de IBM con implementaciones de 8 y 16 cúbits han confirmado el claro decaimiento de EPCL, validando su utilidad para medir el rendimiento agregado de registros cuánticos sin las limitaciones de los métodos anteriores.